交變冷熱沖擊試驗機的主要特點是溫度試驗可以設(shè)定快速沖擊及快速變化，快可以在3秒鐘內(nèi)從高溫變到低溫，5分鐘內(nèi)完成沖擊 效果。破壞能力*
更新時間:2023-08-20
低溫電子沖擊試驗機具有極寬的溫度控制與編程范圍。采用的高精度可編程溫度控制儀，7寸真彩觸摸屏操作，中/英文液晶顯示配有10M/100M以太網(wǎng)絡接口
更新時間:2023-08-20
冷熱三箱沖擊試驗箱愛佩公司常做的標準型號和內(nèi)尺寸（也可按客戶要求生產(chǎn)）（單位:mm）：
溫度驟變時間:從冷溫區(qū)到熱溫區(qū)或從熱溫區(qū)到冷溫區(qū)≤10秒鐘;
更新時間:2023-08-20
全自動低溫沖擊試驗機滿足的試驗方法有：SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式；SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式；
更新時間:2023-08-20
冷熱溫度沖擊試驗機適用于電子元氣件的安全性能測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選試驗等，同時通過此裝備試驗，可提高產(chǎn)品的可靠性和進行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。
更新時間:2023-08-20
充電樁冷熱沖擊試驗箱是以冷熱溫度為主要試驗環(huán)境做快速轉(zhuǎn)換達到?jīng)_擊效果的試驗設(shè)備。主要用于測試工業(yè)材料對極熱溫或極冷溫的抵抗能力。
更新時間:2023-08-20
冷熱沖擊環(huán)境試驗箱是常用于半導體行業(yè)及半導體產(chǎn)品、材料、配件做在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,
更新時間:2023-08-20
?高低溫冷熱沖擊實驗箱主要結(jié)構(gòu)是由三個槽（高溫槽、低溫槽、產(chǎn)品槽）組成，高溫槽即是生產(chǎn)及儲存高溫，低溫槽即是生產(chǎn)及儲存低溫，產(chǎn)品槽則是提供給顧客擺放產(chǎn)品的空間容積。
更新時間:2023-08-20
?高低溫冷熱沖擊試驗房可以重現(xiàn)極寒天氣供一些工業(yè)產(chǎn)品或半成品、原材料測試它們的結(jié)構(gòu)或性能指標在瞬間下經(jīng)極低溫及*溫的連續(xù)溫度環(huán)境破壞下所能忍受的程度
更新時間:2023-08-20
高低溫光電沖擊試驗箱全部功能采用計算機控制，系愛佩公司自主開發(fā)的軟件，有良好的操作界面，使用戶的操作和監(jiān)測都更加簡單和直觀
更新時間:2023-08-20
變速冷熱沖擊試驗箱測試觸摸屏產(chǎn)品或觸摸屏行業(yè)相關(guān)的產(chǎn)品及零件等材料在在瞬間下經(jīng)*溫（熱沖擊）及極低溫（冷沖擊）的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度。
更新時間:2023-08-20
沖擊溫升試驗箱技術(shù)參數(shù)：
溫度范圍：A:-40~ 150℃；B:-55~ 150℃；C:-65~ 150℃
更新時間:2023-08-20
工業(yè)高低溫沖擊試驗箱有很多，生產(chǎn)冷熱沖擊試驗箱的廠家也一樣有很多，其中東莞市愛佩試驗設(shè)備有限公司也數(shù)眾多冷熱沖擊試驗箱廠家的其中一家。
更新時間:2023-08-20
?高低溫沖擊測試試驗機性能參數(shù)參考如下：
低溫沖擊可選擇溫度范圍：A-20℃;B-40℃;C:55℃;D:-65℃（廠家還免費配高溫至150度）
更新時間:2023-08-20
沖擊試驗機箱技術(shù)參數(shù)
型號：AP-CJ-50、AP-CJ-80、AP-CJ-150
試驗箱內(nèi)尺寸mm：360X350X400、500X400X400、600X500X500
更新時間:2023-08-20
冷熱沖擊試驗機器常規(guī)型號和技術(shù)參數(shù):
沖擊箱常規(guī)型號一:3AP-CJ-50
內(nèi)箱尺寸W×H×D:360mm×350mm×400mm
外箱尺寸W×H×D:1560mm*1750mm*1440m
更新時間:2023-08-20
高低溫循環(huán)沖擊試驗箱是導航儀成品或者半成品及原材料等相關(guān)行業(yè)備的試驗設(shè)備，只是有些人會用高低溫試驗箱代替試驗用。
更新時間:2023-08-20
高低溫循環(huán)沖擊試驗箱是導航儀成品或者半成品及原材料等相關(guān)行業(yè)備的試驗設(shè)備，只是有些人會用高低溫試驗箱代替試驗用。
更新時間:2023-08-20
高低溫循環(huán)沖擊試驗箱是導航儀成品或者半成品及原材料等相關(guān)行業(yè)備的試驗設(shè)備，只是有些人會用高低溫試驗箱代替試驗用。
更新時間:2023-08-20
連接器冷熱沖擊試驗箱滿足以下標準：
GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫
更新時間:2023-08-20
